Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бёккер, Ю. - Спектроскопия
Бёккер, Ю. - Спектроскопия
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Бёккер, Ю.
Спектроскопия
Серия: Мир химии
Издательство: РИЦ "Техносфера", 2009 г.
ISBN 978-5-94836-220-5
Автор: Бёккер, Ю.
Спектроскопия
Серия: Мир химии
Издательство: РИЦ "Техносфера", 2009 г.
ISBN 978-5-94836-220-5
На полку
Электронный ресурс
Бёккер, Ю.
Спектроскопия / пер. Л. Н. Казанцева. – Москва : РИЦ "Техносфера", 2009. – 528 с. – (Мир химии). – Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=88994. – http://biblioclub.ru/. – На рус. яз. – ISBN 978-5-94836-220-5.
Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ.В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.
основной = ЭБС Университетская библиотека
Бёккер, Ю.
Спектроскопия / пер. Л. Н. Казанцева. – Москва : РИЦ "Техносфера", 2009. – 528 с. – (Мир химии). – Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=88994. – http://biblioclub.ru/. – На рус. яз. – ISBN 978-5-94836-220-5.
Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ.В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.
основной = ЭБС Университетская библиотека