Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Современные методы структурного анализа веществ
Современные методы структурного анализа веществ
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор:
Современные методы структурного анализа веществ : учебник
Издательство: Изд-во Юж. федер. ун-та, 2009 г.
ISBN 978-5-9275-0653-8
Автор:
Современные методы структурного анализа веществ : учебник
Издательство: Изд-во Юж. федер. ун-та, 2009 г.
ISBN 978-5-9275-0653-8
Электронный ресурс
Современные методы структурного анализа веществ : учебник / Федеральное агентство по образованию Российской Федерации ; Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет". – Ростов-на-Дону : Изд-во Юж. федер. ун-та, 2009. – 288 с. – Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=241003. – http://biblioclub.ru/. – Библиогр. в кн. – На рус. яз. – ISBN 978-5-9275-0653-8.
В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии и кристаллохимии, физика дифракции рентгеновских лучей, нейронов и электронов, анализа атомного строения веществ. Особое внимание уделено достоверности и точности результатов структурного анализа.Учебник может быть использован при подготовке студентов и аспирантов физических, химических, геологических, биологических и материаловедческих специальностей, а также инженерами и научными работниками, занимающимися разработкой новых материалов различного применения.
548
535
основной = ЭБС Университетская библиотека
Современные методы структурного анализа веществ : учебник / Федеральное агентство по образованию Российской Федерации ; Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет". – Ростов-на-Дону : Изд-во Юж. федер. ун-та, 2009. – 288 с. – Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=241003. – http://biblioclub.ru/. – Библиогр. в кн. – На рус. яз. – ISBN 978-5-9275-0653-8.
В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии и кристаллохимии, физика дифракции рентгеновских лучей, нейронов и электронов, анализа атомного строения веществ. Особое внимание уделено достоверности и точности результатов структурного анализа.Учебник может быть использован при подготовке студентов и аспирантов физических, химических, геологических, биологических и материаловедческих специальностей, а также инженерами и научными работниками, занимающимися разработкой новых материалов различного применения.
548
535
основной = ЭБС Университетская библиотека