Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Лачинов, Алексей Николаевич - Методы диагностики и анализа микро- и наносистем

Лачинов, Алексей Николаевич - Методы диагностики и анализа микро- и наносистем

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Лачинов, Алексей Николаевич
Методы диагностики и анализа микро- и наносистем : Учебное пособие
Издательство: БГПУ имени М. Акмуллы, 2013 г.
ISBN 978-5-87978-817-4

полный текст

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс
22.344.1я73

Лачинов, Алексей Николаевич.
Методы диагностики и анализа микро- и наносистем [Электронный ресурс] : Учебное пособие / А. Н. Лачинов ; БГПУ имени М. Акмуллы. – Уфа : БГПУ имени М. Акмуллы, 2013. – 60 с. – Режим доступа : http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42398, https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg. – Для авторизованных пользователей МПГУ. – Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Информатика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-87978-817-4.

Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля

ББК 22.344.1я73
ББК 22.253.2я73
544.023

основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = физика : методы и аппаратура спектроскопии
основной = физика : физика конденсированного состояния : нанофизика : наноструктуры (физ.)
основной = виды изданий : учебные издания
основной = читательское назначение : вузы
основной = Лань (СЭБ) сделано




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203