Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Елманов, Геннадий Николаевич - Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
Елманов, Геннадий Николаевич - Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Елманов, Геннадий Николаевич
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии : Лабораторный практикум
Издательство: НИЯУ МИФИ, 2011 г.
ISBN 978-5-7262-1581-5
Автор: Елманов, Геннадий Николаевич
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии : Лабораторный практикум
Издательство: НИЯУ МИФИ, 2011 г.
ISBN 978-5-7262-1581-5
На полку
Электронный ресурс
22.338.4я73-5
Елманов, Геннадий Николаевич.
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : Лабораторный практикум : Учебное пособие для студентов вузов / Г. Н. Елманов, Б. А. Логинов, О. Н. Севрюков ; М-во образования и науки РФ, Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ". – Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. – 64 с. – Режим доступа : http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758. – Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений. – Для авторизованных пользователей МПГУ. – Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7262-1581-5.
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.
ББК 22.338.4я73-5
620.179.118(076.5)
основной = физика : электричество и магнетизм : движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях : электронная и ионная оптика : сканирующая зондовая микроскопия
основной = виды изданий : учебные издания : практикумы
основной = читательское назначение : вузы
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = Лань (СЭБ) сделано
22.338.4я73-5
Елманов, Геннадий Николаевич.
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : Лабораторный практикум : Учебное пособие для студентов вузов / Г. Н. Елманов, Б. А. Логинов, О. Н. Севрюков ; М-во образования и науки РФ, Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ". – Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. – 64 с. – Режим доступа : http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758. – Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений. – Для авторизованных пользователей МПГУ. – Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7262-1581-5.
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.
ББК 22.338.4я73-5
620.179.118(076.5)
основной = физика : электричество и магнетизм : движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях : электронная и ионная оптика : сканирующая зондовая микроскопия
основной = виды изданий : учебные издания : практикумы
основной = читательское назначение : вузы
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = Лань (СЭБ) сделано