Электронный каталог

Электронный ресурс
22.338.4я73

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов [Электронный ресурс] : Учебно-методическое пособие / БГПУ имени М. Акмуллы ; Сост.: И. Р. Набиуллин и др. – Уфа : БГПУ имени М. Акмуллы, 2016. – 41 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/93053. – Для авторизованных пользователей МПГУ. – Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.

Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».

ББК 22.338.4я73
ББК 35.71я73

основной = физика : электричество и магнетизм : движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях : электронная и ионная оптика : сканирующая зондовая микроскопия
техника = техника : химическая технология : полимеры (техника)
основной = виды изданий : учебные издания
основной = читательское назначение : вузы
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = Лань (СЭБ) сделано
основной = виды изданий : учебные издания : учебно-методические пособия