Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Барминова Е. Е. - Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества
Барминова Е. Е. - Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Барминова Е. Е.
Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества : учебное пособие
Издательство: НИЯУ МИФИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7262-2469-5
Автор: Барминова Е. Е.
Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества : учебное пособие
Издательство: НИЯУ МИФИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7262-2469-5
На полку
Электронный ресурс
Барминова, Е. Е.
Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Москва : НИЯУ МИФИ, 2018. – 20 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/126650, https://e.lanbook.com/img/cover/book/126650.jpg. – Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7262-2469-5.
В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результаты проектирования ионно-оптических систем для радиографических установок на пучках протонов с энергией 1 и 9 ГэВ с оценкой пространственного разрешения установок, обусловленного хроматическими аберрациями. При написании пособия использованы материалы лекций по курсу “Физика пучков заряженных частиц”, которые автор читала на факультете экспериментальной и теоретической физики НИЯУ МИФИ в 2012-2015 гг. Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества, физики плазмы и физики ускорителей, а также может быть полезно специалистам, занятым в междисциплинарных исследованиях, требующих применения современных радиографических методов.
539.1.07:620.183.6
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
Барминова, Е. Е.
Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Москва : НИЯУ МИФИ, 2018. – 20 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/126650, https://e.lanbook.com/img/cover/book/126650.jpg. – Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7262-2469-5.
В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результаты проектирования ионно-оптических систем для радиографических установок на пучках протонов с энергией 1 и 9 ГэВ с оценкой пространственного разрешения установок, обусловленного хроматическими аберрациями. При написании пособия использованы материалы лекций по курсу “Физика пучков заряженных частиц”, которые автор читала на факультете экспериментальной и теоретической физики НИЯУ МИФИ в 2012-2015 гг. Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества, физики плазмы и физики ускорителей, а также может быть полезно специалистам, занятым в междисциплинарных исследованиях, требующих применения современных радиографических методов.
539.1.07:620.183.6
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань