Электронный каталог

Электронный ресурс

Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда [Электронный ресурс] : лабораторная работа. – Москва : НИЯУ МИФИ, 2019. – 32 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/126664, https://e.lanbook.com/img/cover/book/126664.jpg. – Рекомендовано к изданию ФУМО «Ядерные физика и технологии». – Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7262-2376-6.

Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов . Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».

539.26 (076.5)

основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань