Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Волкова Е. В. - Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии
Волкова Е. В. - Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Волкова Е. В.
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии : практикум
Издательство: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014 г.
ISBN отсутствует
Автор: Волкова Е. В.
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии : практикум
Издательство: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014 г.
ISBN отсутствует
На полку
Электронный ресурс
Волкова, Е. В.
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : практикум. – Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014. – 17 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/152815, https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg. – Рекомендовано методической комиссией радиофизического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки 011800 «Радиофизика и электроника» 010400 «Информационные технологии» 654700 «Информационная безопасность телекоммуникационных систем». – Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Физика. – На рус. яз.
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизического факультета ННГУ в качестве пособия при подготовке и проведении лабораторных работ по специализированному курсу «Сканирующая зондовая микроскопия».
53.082, 538.95
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
Волкова, Е. В.
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : практикум. – Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014. – 17 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/152815, https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg. – Рекомендовано методической комиссией радиофизического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки 011800 «Радиофизика и электроника» 010400 «Информационные технологии» 654700 «Информационная безопасность телекоммуникационных систем». – Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Физика. – На рус. яз.
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизического факультета ННГУ в качестве пособия при подготовке и проведении лабораторных работ по специализированному курсу «Сканирующая зондовая микроскопия».
53.082, 538.95
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань