Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Николичев, Дмитрий Евгеньевич - Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Николичев, Дмитрий Евгеньевич - Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Николичев, Дмитрий Евгеньевич
Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие
Издательство: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014 г.
ISBN отсутствует

полный текст

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс

Николичев, Дмитрий Евгеньевич.
Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2014. – 73 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/152944, https://e.lanbook.com/img/cover/book/152944.jpg. – Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающимся по направлениям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника", 210100 – "Электроника и наноэлектроника". – Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Химия. – На рус. яз.

Рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Рассмотрены методы интерпретации фотоэлектронных спектров. Описана методика проведения количественного химического анализа методом РФЭС совместно с ионным профилированием структур с нанометровыми слоями. Приведены примеры анализа состава наноструктур на основе оксида кремния и спинтронных систем на основе арсенида галлия Для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по специальностям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника" и 210100 – "Электроника и наноэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур"

543.428:54.06:538.91

основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203