Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Николичев, Дмитрий Евгеньевич - Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии
Николичев, Дмитрий Евгеньевич - Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Николичев, Дмитрий Евгеньевич
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии : учебно-методическое пособие
Издательство: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011 г.
ISBN отсутствует
Автор: Николичев, Дмитрий Евгеньевич
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии : учебно-методическое пособие
Издательство: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011 г.
ISBN отсутствует
На полку
Электронный ресурс
Николичев, Дмитрий Евгеньевич.
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011. – 110 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/153530, https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg. – Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающимся по направлениям 210600 – "Нанотехнология в электронике" 210100 – "Электроника и микроэлектроника". – Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников. Для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям 210600 – "Нанотехнология в электронике" и 210100 – "Электроника и микроэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур"
543.428.2:539.25
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = виды изданий : учебные издания : учебно-методические пособия
Николичев, Дмитрий Евгеньевич.
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011. – 110 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/153530, https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg. – Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающимся по направлениям 210600 – "Нанотехнология в электронике" 210100 – "Электроника и микроэлектроника". – Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников. Для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям 210600 – "Нанотехнология в электронике" и 210100 – "Электроника и микроэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур"
543.428.2:539.25
основной = ЭБС Лань (СЭБ)
основной = ЭБС Лань
основной = виды изданий : учебные издания : учебно-методические пособия