Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Горлов М. И. - Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Горлов М. И. - Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Горлов М. И.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Издательство: УлГТУ, 2020 г.
ISBN отсутствует
Автор: Горлов М. И.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Издательство: УлГТУ, 2020 г.
ISBN отсутствует
На полку
Электронный ресурс
Горлов, М. И.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий [Электронный ресурс]. – 3-е изд., доп. и перераб. – Ульяновск : УлГТУ, 2020. – 470 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/170654, https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg. – Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
621.315.592+658.562.4
основной = ЭБС Лань
Горлов, М. И.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий [Электронный ресурс]. – 3-е изд., доп. и перераб. – Ульяновск : УлГТУ, 2020. – 470 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/170654, https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg. – Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
621.315.592+658.562.4
основной = ЭБС Лань