Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Васильев, Владислав Юрьевич - Свойства и применение диэлектрических тонких пленок в технологиях микроэлектроники

Васильев, Владислав Юрьевич - Свойства и применение диэлектрических тонких пленок в технологиях микроэлектроники

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Васильев, Владислав Юрьевич
Свойства и применение диэлектрических тонких пленок в технологиях микроэлектроники : учебное пособие
Издательство: НГТУ, 2021 г.
ISBN 978-5-7782-4389-7

полный текст

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс

Васильев, Владислав Юрьевич.
Свойства и применение диэлектрических тонких пленок в технологиях микроэлектроники [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Новосибирск : НГТУ, 2021. – 100 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/216209, https://e.lanbook.com/img/cover/book/216209.jpg. – Утверждено Редакционно-издательским советом университета в качестве учебного пособия. – Книга из коллекции НГТУ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7782-4389-7.

Показаны взаимосвязи параметров процессов химического осаждения из газовой фазы (ХОГФ) и физико-химических свойств тонких пленок (ТП), систематизированы и обобщены основные особенности ТП материалов на основе кремния. Рассмотрены вопросы методологии и технологии создания тонких пленок (ТП) неорганических материалов нитрида кремния, диоксида кремния, силикатных стекол при ХОГФ для использования в технологиях микро- и наноэлектроники с проектно-технологическими нормами более 150 нм. Рассматривается алгоритм анализа патентов по тематике ТП для технологий ИМС. Пособие создано на основе исследовательской и публикационной активности автора в течение 40 лет. Материал пособия может быть рекомендован для обучения бакалавров и магистрантов по направлениям 11.03.04 и 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника», 28.03.01 и 28.04.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» в рамках семинаров по специальностям и по дисциплинам, связанным с преподаванием физико-химических основ технологических процессов изделий микроэлектроники, микросистемной техники, наноэлектроники. Рекомендуетсядля магистрантов и аспирантов по специальности 11.06.01 «Электроника, радиотехника и системы связи», а также для технологов производства ИМС, исследователей в области нанотехнологий.

539.23 : 621.38.049.77(075.8)

основной = ЭБС Лань




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203