Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Ищенко, А. А. - Методы локального анализа иэлектронная микроскопия

Ищенко, А. А. - Методы локального анализа иэлектронная микроскопия

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Ищенко, А. А.
Ч. 1: Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2021 г.
ISBN отсутствует

полный текст

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс

Ищенко, А. А.
Ч. 1 : Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2021. – 49 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/218654, https://e.lanbook.com/img/cover/book/218654.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Химия. – На рус. яз.

Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методованализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализаповерхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку онпозволяет получить информацию о фундаментальных химических процессах, происходящихна поверхности: коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии,сегрегации, а также о реакционной способности веществ. В настоящее время для анализаповерхности и межфазных границ реально используют более 30 методов, около 15 из нихсчитаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми впромышленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электроннаяоже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и спектроскопиярезерфордовского обратного рассеяния, используемые для анализа состава поверхности;растровая электронная микроскопия для исследования морфологии поверхности,аналитическая электронная микроскопия для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа. Соответствующаягруппа методов исследования получила название «методы локального анализа и анализаповерхности» (МЛААП). В учебном пособии наиболее подробно изложеныэкспериментальные и теоретические основы электронной микроскопии – одного из наиболеевостребованных инструментальных методов исследования и анализа.Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия и 18.04.01Химическая технология, аспирантов 04.06.01 Химические науки, специализирующихся вобласти аналитической, физической химии и 22.06.01 Технологии материалов.Учебное пособие издается в авторской редакции

543.426+547.218

основной = ЭБС Лань




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203