Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ищенко, А. А. - Методы локального анализа иэлектронная микроскопия
Ищенко, А. А. - Методы локального анализа иэлектронная микроскопия
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Ищенко, А. А.
Ч. 1: Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2021 г.
ISBN отсутствует
Автор: Ищенко, А. А.
Ч. 1: Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2021 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Ищенко, А. А.
Ч. 1 : Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2021. – 49 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/218654, https://e.lanbook.com/img/cover/book/218654.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Химия. – На рус. яз.
Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методованализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализаповерхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку онпозволяет получить информацию о фундаментальных химических процессах, происходящихна поверхности: коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии,сегрегации, а также о реакционной способности веществ. В настоящее время для анализаповерхности и межфазных границ реально используют более 30 методов, около 15 из нихсчитаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми впромышленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электроннаяоже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и спектроскопиярезерфордовского обратного рассеяния, используемые для анализа состава поверхности;растровая электронная микроскопия для исследования морфологии поверхности,аналитическая электронная микроскопия для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа. Соответствующаягруппа методов исследования получила название «методы локального анализа и анализаповерхности» (МЛААП). В учебном пособии наиболее подробно изложеныэкспериментальные и теоретические основы электронной микроскопии – одного из наиболеевостребованных инструментальных методов исследования и анализа.Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия и 18.04.01Химическая технология, аспирантов 04.06.01 Химические науки, специализирующихся вобласти аналитической, физической химии и 22.06.01 Технологии материалов.Учебное пособие издается в авторской редакции
543.426+547.218
основной = ЭБС Лань
Ищенко, А. А.
Ч. 1 : Методы локального анализа иэлектронная микроскопия : Учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2021. – 49 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/218654, https://e.lanbook.com/img/cover/book/218654.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Химия. – На рус. яз.
Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методованализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализаповерхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку онпозволяет получить информацию о фундаментальных химических процессах, происходящихна поверхности: коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии,сегрегации, а также о реакционной способности веществ. В настоящее время для анализаповерхности и межфазных границ реально используют более 30 методов, около 15 из нихсчитаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми впромышленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электроннаяоже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и спектроскопиярезерфордовского обратного рассеяния, используемые для анализа состава поверхности;растровая электронная микроскопия для исследования морфологии поверхности,аналитическая электронная микроскопия для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа. Соответствующаягруппа методов исследования получила название «методы локального анализа и анализаповерхности» (МЛААП). В учебном пособии наиболее подробно изложеныэкспериментальные и теоретические основы электронной микроскопии – одного из наиболеевостребованных инструментальных методов исследования и анализа.Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия и 18.04.01Химическая технология, аспирантов 04.06.01 Химические науки, специализирующихся вобласти аналитической, физической химии и 22.06.01 Технологии материалов.Учебное пособие издается в авторской редакции
543.426+547.218
основной = ЭБС Лань