Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Суворов, Э. В. - Дифракционный структурный анализ
Суворов, Э. В. - Дифракционный структурный анализ
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Суворов, Э. В.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов
Серия: Высшее образование
Издательство: Юрайт, 2023 г.
ISBN 978-5-534-15004-9
Автор: Суворов, Э. В.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов
Серия: Высшее образование
Издательство: Юрайт, 2023 г.
ISBN 978-5-534-15004-9
На полку
Электронный ресурс
Суворов, Э. В.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов. – 2-е изд, пер. и доп. – Электрон. дан. – Москва : Юрайт, 2023. – 309 с. – (Высшее образование). – Режим доступа : https://urait.ru/bcode/517418, https://urait.ru/book/cover/928C050E-655F-40C0-9A36-23E9EA3B05C1. – Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. – URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 13.03.2023). – На рус. яз. – ISBN 978-5-534-15004-9 : 1229.00.
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
539.26(075.8)
основной = ЭБС Юрайт
Суворов, Э. В.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов. – 2-е изд, пер. и доп. – Электрон. дан. – Москва : Юрайт, 2023. – 309 с. – (Высшее образование). – Режим доступа : https://urait.ru/bcode/517418, https://urait.ru/book/cover/928C050E-655F-40C0-9A36-23E9EA3B05C1. – Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. – URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 13.03.2023). – На рус. яз. – ISBN 978-5-534-15004-9 : 1229.00.
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
539.26(075.8)
основной = ЭБС Юрайт