Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филимонова, Н. И. - Методы электронной микроскопии
Филимонова, Н. И. - Методы электронной микроскопии

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие
Издательство: СибГУТИ, 2016 г.
ISBN отсутствует
Автор: Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие
Издательство: СибГУТИ, 2016 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Новосибирск : СибГУТИ, 2016. – 61 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/257183, https://e.lanbook.com/img/cover/book/257183.jpg. – Книга из коллекции СибГУТИ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
[543.456: 621.38](075.8)
основной = ЭБС Лань
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Новосибирск : СибГУТИ, 2016. – 61 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/257183, https://e.lanbook.com/img/cover/book/257183.jpg. – Книга из коллекции СибГУТИ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз.
Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
[543.456: 621.38](075.8)
основной = ЭБС Лань
На полку