Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сергеев, В. А. - Диагностика полупроводниковых источников излучения
Сергеев, В. А. - Диагностика полупроводниковых источников излучения
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Сергеев, В. А.
Диагностика полупроводниковых источников излучения : учебное пособие
Издательство: УлГТУ, 2022 г.
ISBN 978-5-9795-2190-9
Автор: Сергеев, В. А.
Диагностика полупроводниковых источников излучения : учебное пособие
Издательство: УлГТУ, 2022 г.
ISBN 978-5-9795-2190-9
На полку
Электронный ресурс
Сергеев, В. А.
Диагностика полупроводниковых источников излучения [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Ульяновск : УлГТУ, 2022. – 95 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/259718, https://e.lanbook.com/img/cover/book/259718.jpg. – Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-9795-2190-9.
В пособии рассмотрены физические основы и принципы работы полупроводниковых источников излучения, их основные параметры и характеристики, определены требования к их качеству и надежности. Описаны наиболее распространенные и эффективные методы и средства неразрушающей диагностики светодиодов и полупроводниковых лазеров. Приведены результаты апробации описанных методов и средств на серийных изделиях. Пособие предназначено для студентов и аспирантов высших учебных заведений специальностей и направлений «Радиотехника» и «Проектирование и технология радиоэлектронных средств», специализирующихся в области опто- и наноэлектроники, а также может быть полезным специалистам научно-производственных предприятий и научных организаций.
621.382 (075)
основной = ЭБС Лань
Сергеев, В. А.
Диагностика полупроводниковых источников излучения [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Ульяновск : УлГТУ, 2022. – 95 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/259718, https://e.lanbook.com/img/cover/book/259718.jpg. – Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-9795-2190-9.
В пособии рассмотрены физические основы и принципы работы полупроводниковых источников излучения, их основные параметры и характеристики, определены требования к их качеству и надежности. Описаны наиболее распространенные и эффективные методы и средства неразрушающей диагностики светодиодов и полупроводниковых лазеров. Приведены результаты апробации описанных методов и средств на серийных изделиях. Пособие предназначено для студентов и аспирантов высших учебных заведений специальностей и направлений «Радиотехника» и «Проектирование и технология радиоэлектронных средств», специализирующихся в области опто- и наноэлектроники, а также может быть полезным специалистам научно-производственных предприятий и научных организаций.
621.382 (075)
основной = ЭБС Лань