Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Васильев, Ф. В. - Физическая надежность электроники
Васильев, Ф. В. - Физическая надежность электроники
![](/Opac/app/webroot/img/doctypes/30.gif)
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Васильев, Ф. В.
Физическая надежность электроники
Издательство: МАИ, 2022 г.
ISBN 978-5-4316-0947-3
Автор: Васильев, Ф. В.
Физическая надежность электроники
Издательство: МАИ, 2022 г.
ISBN 978-5-4316-0947-3
Электронный ресурс
Васильев, Ф. В.
Физическая надежность электроники [Электронный ресурс] . - Москва : МАИ, 2022 . - 159 с. - Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/344012, https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg . - Книга из коллекции МАИ - Инженерно-технические науки . - На рус. яз. - ISBN 978-5-4316-0947-3 .
Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как конструктивных, так и технологических, обобщить имеющиеся и сформулировать новые данные в этой области. Книга может быть интересна исследователям, занимающимся вопросами проектирования и производства электронных устройств и исследующим их надежность.
основной = ЭБС Лань
Васильев, Ф. В.
Физическая надежность электроники [Электронный ресурс] . - Москва : МАИ, 2022 . - 159 с. - Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/344012, https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg . - Книга из коллекции МАИ - Инженерно-технические науки . - На рус. яз. - ISBN 978-5-4316-0947-3 .
Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как конструктивных, так и технологических, обобщить имеющиеся и сформулировать новые данные в этой области. Книга может быть интересна исследователям, занимающимся вопросами проектирования и производства электронных устройств и исследующим их надежность.
основной = ЭБС Лань