Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кузнецова, Ю. В. - Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе
Кузнецова, Ю. В. - Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие
Издательство: ТвГУ, 2023 г.
ISBN 978-5-7609-1838-3
Автор: Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие
Издательство: ТвГУ, 2023 г.
ISBN 978-5-7609-1838-3
На полку
Электронный ресурс
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Тверь : ТвГУ, 2023. – 96 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/415544, https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg. – Книга из коллекции ТвГУ - Физика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7609-1838-3.
Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
В338я73
основной = ЭБС Лань
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Тверь : ТвГУ, 2023. – 96 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/415544, https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg. – Книга из коллекции ТвГУ - Физика. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7609-1838-3.
Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
В338я73
основной = ЭБС Лань