Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ищенко, А. А. - Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Ищенко, А. А. - Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2024 г.
ISBN 978-5-7339-2160-0
Автор: Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2024 г.
ISBN 978-5-7339-2160-0
Электронный ресурс
Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2024. – 81 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/421019, https://e.lanbook.com/img/cover/book/421019.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Нанотехнологии. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7339-2160-0.
В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных материалов. Рассмотрены основы качественного, количественного анализа и определения валентных состояний, производственный аналитический контроль. Представлены разработки современных приборов и аналитических систем рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Предназначено для магистров направления подготовки 04.04.01 Химия при изучении дисциплины «Инструментальные методы анализа и исследования наноматериалов», аспирантов направления 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии, и направления 22.06.01 Технологии материалов.
543.5+546.282+620.3
основной = ЭБС Лань
основной = Дайджест июль-август 2024
Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2024. – 81 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/421019, https://e.lanbook.com/img/cover/book/421019.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Нанотехнологии. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7339-2160-0.
В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных материалов. Рассмотрены основы качественного, количественного анализа и определения валентных состояний, производственный аналитический контроль. Представлены разработки современных приборов и аналитических систем рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Предназначено для магистров направления подготовки 04.04.01 Химия при изучении дисциплины «Инструментальные методы анализа и исследования наноматериалов», аспирантов направления 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии, и направления 22.06.01 Технологии материалов.
543.5+546.282+620.3
основной = ЭБС Лань
основной = Дайджест июль-август 2024