Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Ищенко, А. А. - Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Ищенко, А. А. - Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие
Издательство: РТУ МИРЭА, 2024 г.
ISBN 978-5-7339-2160-0

полный текст

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс

Ищенко, А. А.
Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Москва : РТУ МИРЭА, 2024. – 81 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/421019, https://e.lanbook.com/img/cover/book/421019.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Нанотехнологии. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7339-2160-0.

В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных материалов. Рассмотрены основы качественного, количественного анализа и определения валентных состояний, производственный аналитический контроль. Представлены разработки современных приборов и аналитических систем рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Предназначено для магистров направления подготовки 04.04.01 Химия при изучении дисциплины «Инструментальные методы анализа и исследования наноматериалов», аспирантов направления 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии, и направления 22.06.01 Технологии материалов.

543.5+546.282+620.3

основной = ЭБС Лань
основной = Дайджест июль-август 2024




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203