Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Шевченко, И. М. - Методы диагностики и анализа наносистем
Шевченко, И. М. - Методы диагностики и анализа наносистем
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Шевченко, И. М.
Методы диагностики и анализа наносистем
Издательство: СКФУ, 2023 г.
ISBN отсутствует
Автор: Шевченко, И. М.
Методы диагностики и анализа наносистем
Издательство: СКФУ, 2023 г.
ISBN отсутствует
На полку
Электронный ресурс
Шевченко, И. М.
Методы диагностики и анализа наносистем [Электронный ресурс]. – Ставрополь : СКФУ, 2023. – 186 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/510823, https://e.lanbook.com/img/cover/book/510823.jpg. – Книга из коллекции СКФУ - Нанотехнологии. – На рус. яз.
Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащиe краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
539: 621.0 (075.8)
основной = ЭБС Лань
Шевченко, И. М.
Методы диагностики и анализа наносистем [Электронный ресурс]. – Ставрополь : СКФУ, 2023. – 186 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/510823, https://e.lanbook.com/img/cover/book/510823.jpg. – Книга из коллекции СКФУ - Нанотехнологии. – На рус. яз.
Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащиe краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
539: 621.0 (075.8)
основной = ЭБС Лань