Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бургуэн, Жак - Точечные дефекты в полупроводниках
Бургуэн, Жак - Точечные дефекты в полупроводниках

Экз. чит. зала
Книга
Автор: Бургуэн, Жак
Точечные дефекты в полупроводниках : экспериментальные аспекты
Point defects in semiconductors : experimental aspects
Издательство: Мир, 1985 г.
ISBN отсутствует
Автор: Бургуэн, Жак
Точечные дефекты в полупроводниках : экспериментальные аспекты
Point defects in semiconductors : experimental aspects
Издательство: Мир, 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
537.42 Б912
Бургуэн, Жак.
Точечные дефекты в полупроводниках = Point defects in semiconductors : experimental aspects : экспериментальные аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; перевод Ю. М. Гальперина, В. И. Козуба, Э. Б. Сонина, В. Л. Гуревича. – Москва : Мир, 1985. – 304 с. : ил. – Copyright by J. Bourgoin, M. Lannoo, 1983. – Библиогр.: с. 289-297. – На рус. яз. : 2.70.
Цель данной книги, написанной французскими учеными, - анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна-Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах.
ББК 22.379.2
основной = физика : физика твердого тела : физика полупроводников : структура полупроводников : дефекты полупроводников
основной = электронный парамагнитный резонанс
основной = физика : физика твердого тела : структура твердых тел : кристаллическое состояние твердого тела : кристаллические решетки
основной = физика : электропроводность
основной = физика : молекулярная физика : атомы
основной = физика : физика твердого тела : физика полупроводников : дефекты кристаллической решетки полупроводников
основной = физика : электричество и магнетизм : магнетизм : парамагнетизм
00000001179277 Депозит_Н 537.42 Б912
537.42 Б912
Бургуэн, Жак.
Точечные дефекты в полупроводниках = Point defects in semiconductors : experimental aspects : экспериментальные аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; перевод Ю. М. Гальперина, В. И. Козуба, Э. Б. Сонина, В. Л. Гуревича. – Москва : Мир, 1985. – 304 с. : ил. – Copyright by J. Bourgoin, M. Lannoo, 1983. – Библиогр.: с. 289-297. – На рус. яз. : 2.70.
Цель данной книги, написанной французскими учеными, - анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна-Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах.
ББК 22.379.2
основной = физика : физика твердого тела : физика полупроводников : структура полупроводников : дефекты полупроводников
основной = электронный парамагнитный резонанс
основной = физика : физика твердого тела : структура твердых тел : кристаллическое состояние твердого тела : кристаллические решетки
основной = физика : электропроводность
основной = физика : молекулярная физика : атомы
основной = физика : физика твердого тела : физика полупроводников : дефекты кристаллической решетки полупроводников
основной = физика : электричество и магнетизм : магнетизм : парамагнетизм
00000001179277 Депозит_Н 537.42 Б912
На полку