Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Гридчин, А. В. - Инженерно-физические основы микросистем
Гридчин, А. В. - Инженерно-физические основы микросистем

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Гридчин, А. В.
Инженерно-физические основы микросистем : учебное пособие
Издательство: НГТУ, 2025 г.
ISBN 978-5-7782-5465-7
Автор: Гридчин, А. В.
Инженерно-физические основы микросистем : учебное пособие
Издательство: НГТУ, 2025 г.
ISBN 978-5-7782-5465-7
Электронный ресурс
Гридчин, А. В.
Инженерно-физические основы микросистем [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Новосибирск : НГТУ, 2025. – 136 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/514555, https://e.lanbook.com/img/cover/book/514555.jpg. – Книга из коллекции НГТУ - Нанотехнологии. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7782-5465-7.
В работе описаны инженерно-физические основы подхода к описанию микросистем, разработанных и применяющихся в настоящее время. Даны определения основным терминам, применяемым в микросистемной технике, краткая история развития микросистем и перечень характерных метрологических параметров. Приведен математический аппарат, необходимый для описания физики микро- и наносистем. Рассмотрены метрологические и технологические основы подхода к их проектированию, изготовлению и тестированию. Рекомендовано студентам всех вузов, обучающимся по специальностям «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Электроника и наноэлектроника» и «Приборостроение».
621.382-181.48(075.8)
основной = ЭБС Лань
Гридчин, А. В.
Инженерно-физические основы микросистем [Электронный ресурс] : учебное пособие. – Новосибирск : НГТУ, 2025. – 136 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/514555, https://e.lanbook.com/img/cover/book/514555.jpg. – Книга из коллекции НГТУ - Нанотехнологии. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7782-5465-7.
В работе описаны инженерно-физические основы подхода к описанию микросистем, разработанных и применяющихся в настоящее время. Даны определения основным терминам, применяемым в микросистемной технике, краткая история развития микросистем и перечень характерных метрологических параметров. Приведен математический аппарат, необходимый для описания физики микро- и наносистем. Рассмотрены метрологические и технологические основы подхода к их проектированию, изготовлению и тестированию. Рекомендовано студентам всех вузов, обучающимся по специальностям «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Электроника и наноэлектроника» и «Приборостроение».
621.382-181.48(075.8)
основной = ЭБС Лань
На полку