Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Певцов, Е. Ф. - Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум
Певцов, Е. Ф. - Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Певцов, Е. Ф.
Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум
Издательство: РТУ МИРЭА, 2026 г.
ISBN 978-5-7339-2886-9
Автор: Певцов, Е. Ф.
Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум
Издательство: РТУ МИРЭА, 2026 г.
ISBN 978-5-7339-2886-9
На полку
Электронный ресурс
Певцов, Е. Ф.
Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум [Электронный ресурс]. – Москва : РТУ МИРЭА, 2026. – 127 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/523246, https://e.lanbook.com/img/cover/book/523246.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7339-2886-9.
Практикум составлен из заданий с возрастающей сложностью упражнений и ориентирован на получение знаний, навыков и умений для последующей профессиональной деятельности в области исследования свойств материалов для микроэлектроники и измерений характеристик устройств электронной компонентной базы. Предназначен для студентов, обучающихся по направлениям «Электроника и наноэлектроника» (01.03.04, 01.04.04) и «Нанотехнологии и микросистемная техника» (28.03.01 28.04.01) в рамках обучения по дисциплине «Моделирование и проектирование элементов электронной компонентной базы» и «Моделирование и проектирование микро- и наносистем», а также будет полезен студентам других специальностей, смежных области микроэлектроники.
621.38.04
основной = ЭБС Лань
Певцов, Е. Ф.
Исследования свойств материалов и устройств микроэлектроники: Практикум [Электронный ресурс]. – Москва : РТУ МИРЭА, 2026. – 127 с. – Режим доступа : https://e.lanbook.com/book/523246, https://e.lanbook.com/img/cover/book/523246.jpg. – Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Инженерно-технические науки. – На рус. яз. – ISBN 978-5-7339-2886-9.
Практикум составлен из заданий с возрастающей сложностью упражнений и ориентирован на получение знаний, навыков и умений для последующей профессиональной деятельности в области исследования свойств материалов для микроэлектроники и измерений характеристик устройств электронной компонентной базы. Предназначен для студентов, обучающихся по направлениям «Электроника и наноэлектроника» (01.03.04, 01.04.04) и «Нанотехнологии и микросистемная техника» (28.03.01 28.04.01) в рамках обучения по дисциплине «Моделирование и проектирование элементов электронной компонентной базы» и «Моделирование и проектирование микро- и наносистем», а также будет полезен студентам других специальностей, смежных области микроэлектроники.
621.38.04
основной = ЭБС Лань