Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Доступно
1 из 2
1 из 2
Книга
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Перевод с английского
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Перевод с английского
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Книга
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Перевод с английского / под редакцией Д. Бриггса, М. П .Сиха. – Москва : Мир, 1987. – 598 с. : ил. – Пер.: Practical sufrace analysis by auger-and X-ray photoelectron spectroscopy Chichester ect., 1983. – Библиогр.в конце гл. – На рус. яз. : 6.40.
ББК 22.344
ББК 22.336.34
основной = физика : электричество и магнетизм : электромагнитные колебания и волны : спектроскопия
основной = фотоэлектронная спектроскопия
основной = химия : химические соединения
основной = физика : оптика : рентгеноскопия
10000000300299 ФИЗН 535.3 А64
00000000526761 ХИМУ 53 А64
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Перевод с английского / под редакцией Д. Бриггса, М. П .Сиха. – Москва : Мир, 1987. – 598 с. : ил. – Пер.: Practical sufrace analysis by auger-and X-ray photoelectron spectroscopy Chichester ect., 1983. – Библиогр.в конце гл. – На рус. яз. : 6.40.
ББК 22.344
ББК 22.336.34
основной = физика : электричество и магнетизм : электромагнитные колебания и волны : спектроскопия
основной = фотоэлектронная спектроскопия
основной = химия : химические соединения
основной = физика : оптика : рентгеноскопия
10000000300299 ФИЗН 535.3 А64
00000000526761 ХИМУ 53 А64
Заказать
На полку