Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Марукович, Е. И. - Эмиссионный спектральный анализ
Марукович, Е. И. - Эмиссионный спектральный анализ
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Марукович, Е. И.
Эмиссионный спектральный анализ
Издательство: Белорусская наука, 2013 г.
ISBN 978-985-08-1613-9
Автор: Марукович, Е. И.
Эмиссионный спектральный анализ
Издательство: Белорусская наука, 2013 г.
ISBN 978-985-08-1613-9
Электронный ресурс
Марукович, Е. И.
Эмиссионный спектральный анализ . - Минск : Белорусская наука, 2013 . - 308 с. - Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=230973 . - http://biblioclub.ru/ . - На рус. яз. - ISBN 978-985-08-1613-9 .
Представлены результаты исследований закономерностей поступления вещества в плазму разряда применительно к требованиям совершенствования спектрального анализа. Рассмотрены образцы приборов и специальные изделия для сокращения времени пробоподготовки и анализа. На примерах показана перспективность применения средств вычислительной техники для получения спектральной информации и обработки результатов. Большое внимание уделено разработке новых и совершенствованию известных методик контроля толщины и элементного состава различных видов покрытий, контроля микроколичеств элементов в пробах.Рекомендована для инженерно-технических работников предприятий, сотрудников НИИ, а также в качестве учебно-методического пособия для студентов соответствующих специальностей.
543.423
основной = ЭБС Университетская библиотека
Марукович, Е. И.
Эмиссионный спектральный анализ . - Минск : Белорусская наука, 2013 . - 308 с. - Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=230973 . - http://biblioclub.ru/ . - На рус. яз. - ISBN 978-985-08-1613-9 .
Представлены результаты исследований закономерностей поступления вещества в плазму разряда применительно к требованиям совершенствования спектрального анализа. Рассмотрены образцы приборов и специальные изделия для сокращения времени пробоподготовки и анализа. На примерах показана перспективность применения средств вычислительной техники для получения спектральной информации и обработки результатов. Большое внимание уделено разработке новых и совершенствованию известных методик контроля толщины и элементного состава различных видов покрытий, контроля микроколичеств элементов в пробах.Рекомендована для инженерно-технических работников предприятий, сотрудников НИИ, а также в качестве учебно-методического пособия для студентов соответствующих специальностей.
543.423
основной = ЭБС Университетская библиотека