Электронный каталог

👓
eng|rus
Библиотека Московского Педагогического
Государственного Университета

Адрес: ул. М. Пироговская, д. 1, стр.1
Телефон: 8(499)255-27-57
Часы работы: с 10.00 до 18.00

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По образовательным программам
    • Список дисциплин

  • Статистика поисков
  • Электронная библиотека
  • База выпускных квалификационных работ
  • Электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Сперанский, Д. В. - Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Сперанский, Д. В. - Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Сперанский, Д. В.
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
Издательство: Национальный Открытый Университет «ИНТУИТ», 2016 г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку На полку


Электронный ресурс

Сперанский, Д. В.
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств. – 2-е изд., испр. – Москва : Национальный Открытый Университет «ИНТУИТ», 2016. – 535 с. : ил., схем. – Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=429075. – http://biblioclub.ru/. – Библиогр. в кн. – На рус. яз.

Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность.В курсе излагаются алгоритмы и методы логического моделирования исправных и неисправных цифровых устройств, востребованные при решении задач технической диагностики. Описываются методы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных устройств и устройств с памятью, широко используемые на этапах их проектирования и эксплуатации. Представлены методы обработки результатов тестирования и диагностики устройств, а также сокращения диагностической информации с целью локализации неисправностей.


основной = ЭБС Университетская библиотека




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.203