Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Теория тестирования логических устройств
Теория тестирования логических устройств
![](/Opac/app/webroot/img/doctypes/30.gif)
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор:
Теория тестирования логических устройств
Издательство: Физматлит, 2006 г.
ISBN 978-5-9221-0727-3
Автор:
Теория тестирования логических устройств
Издательство: Физматлит, 2006 г.
ISBN 978-5-9221-0727-3
Электронный ресурс
Теория тестирования логических устройств . - Москва : Физматлит, 2006 . - 161 с. - Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=68362 . - http://biblioclub.ru/ . - На рус. яз. - ISBN 978-5-9221-0727-3 .
Тестирование логических устройств — активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов.Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.
519.71
основной = ЭБС Университетская библиотека
Теория тестирования логических устройств . - Москва : Физматлит, 2006 . - 161 с. - Режим доступа : http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=68362 . - http://biblioclub.ru/ . - На рус. яз. - ISBN 978-5-9221-0727-3 .
Тестирование логических устройств — активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов.Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.
519.71
основной = ЭБС Университетская библиотека